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      光學薄膜測量儀

      簡要描述:GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢的儀器。

      • 產品型號:GL-SPM-D2T
      • 產       地:上海市
      • 更新時間:2024-03-28
      • 訪  問  量:1958
      詳細介紹
      品牌UNICO/尤尼柯應用領域綜合
          GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢的儀器。

          光學薄膜測量儀能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

          GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀規格參數:

      項目 指標 備注
      波長范圍 190-800nm 取決于光柵
      光譜分辨率 FWHM0.84@577μm狹縫 與波長和狹縫有關
      雜散光 0.06%@532nm,0.045%@785 與波長有關
      光源 20W鹵素燈、氘燈  
      積分時間 8ms-15min 與CDD有關
      電源 220V@50Hz  
      USB數據線 1.5m帶有USBmini-B接頭的數據線  
      光譜儀自動配置 自動配置包括讀標定參數  
      數據輸出 灰度值隨波長或CCD像素變化(可選擇)  
      尺寸 450mm*300mm*207mm  
      重量 6.5KG  
      工作溫度 0℃~45℃  

       


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